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Lexsyg釋光探測(cè)器|在材料表征科研領(lǐng)域應(yīng)用分享新型AlN陶瓷紫外線劑量測(cè)定研究突破：lexsyg儀器助力精確捕捉太陽(yáng)光與X射線輻照差異文章來(lái)源：https://doi.org/10.2478/lpts-2021-0001隨著紫外線（UV）輻射對(duì)人體健康的影響日益受到關(guān)注，開(kāi)發(fā)高靈敏度的紫外線劑量材料成為科研熱點(diǎn)。近期，拉脫維亞大學(xué)研究團(tuán)隊(duì)在《AlN+Y?O?陶瓷對(duì)太陽(yáng)光與X射線輻照的熱釋光響應(yīng)》研究中取得重要進(jìn)展，揭示了氮化鋁（AlN）陶瓷在紫外線劑量測(cè)定中的潛力，而實(shí)驗(yàn)...

原位降壓和強(qiáng)制對(duì)流過(guò)程中水合物重新分布的演變由大連理工大學(xué)的關(guān)大偉等教授刊登在ScienceDirect上的論文，通過(guò)降壓法和滲流實(shí)驗(yàn)結(jié)合CT成像技術(shù)觀察分析了水合物生長(zhǎng)和分解過(guò)程中樣品內(nèi)部的變化；文章深入研究了多孔介質(zhì)中天然氣水合物的分解現(xiàn)象及其對(duì)儲(chǔ)層內(nèi)部水合物分布和形態(tài)變化的影響；文章闡明了天然氣水合物開(kāi)采過(guò)程中氣-水輸運(yùn)對(duì)水合物分布模式的影響機(jī)理，對(duì)制定天然氣水合物開(kāi)采戰(zhàn)略具有重要意義。本篇研究所用設(shè)備為布魯克Micro-CTSKYSCAN2214以下是文章成果摘要：引...

關(guān)鍵詞：高分辨率三維X射線顯微成像技術(shù)，桌面型高分辨率三維X射線顯微鏡，XRM，纖維取向，孔隙缺陷分布，微觀結(jié)構(gòu)，非破壞性三維成像，高精度成像技術(shù)，CMOS探測(cè)器，桌面級(jí)設(shè)備，三維X射線顯微斷層掃描，MicroCT，數(shù)字巖石，微觀結(jié)構(gòu)解析摘要高分辨率計(jì)算機(jī)顯微斷層掃描是科學(xué)領(lǐng)域的重要方向，它與多種實(shí)驗(yàn)方法密切相關(guān)，并為高級(jí)計(jì)算物理研究奠定基礎(chǔ)，在這些研究中，高分辨率圖像被用作不同科學(xué)模擬模型的輸入。本文呈現(xiàn)的數(shù)據(jù)集包括使用布魯克Skyscan1272X射線斷層掃描儀獲得的（原...

在科學(xué)研究與工業(yè)檢測(cè)的廣袤天地里，微焦點(diǎn)CT技術(shù)應(yīng)用廣泛。而其能否勝任動(dòng)態(tài)過(guò)程觀測(cè)這一關(guān)鍵使命，正成為諸多領(lǐng)域關(guān)注的焦點(diǎn)。微焦點(diǎn)CT具備高分辨率成像的特質(zhì)，能夠清晰捕捉樣品內(nèi)部細(xì)微結(jié)構(gòu)，當(dāng)應(yīng)用于動(dòng)態(tài)過(guò)程觀測(cè)時(shí)，這一能力至關(guān)重要。以材料熱變形研究為例，在加熱過(guò)程中，材料內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)歷經(jīng)復(fù)雜演變，從晶粒生長(zhǎng)、位錯(cuò)滑移，到微孔洞的萌生與匯聚，微焦點(diǎn)CT憑借其出色的空間分辨本領(lǐng)，可將這些變化細(xì)節(jié)一一呈現(xiàn)，為深入理解材料熱變形機(jī)制提供直觀依據(jù)。時(shí)間分辨率是衡量動(dòng)態(tài)觀測(cè)能力的關(guān)鍵標(biāo)尺，微...

在單晶材料的研究和應(yīng)用領(lǐng)域，定向儀的準(zhǔn)確性至關(guān)重要。然而，隨著科技的飛速發(fā)展，全自動(dòng)化單晶定向儀的出現(xiàn)，不僅在測(cè)量精度上達(dá)到了新的高度，更在測(cè)量速度方面實(shí)現(xiàn)了質(zhì)的飛躍，改變了傳統(tǒng)的手動(dòng)或半自動(dòng)定向儀的局面。傳統(tǒng)手動(dòng)或半自動(dòng)定向儀在測(cè)量過(guò)程中，需要人工進(jìn)行諸多操作。從樣品的加載、角度的調(diào)整，到數(shù)據(jù)的讀取和記錄，每一個(gè)步驟都需要耗費(fèi)大量的時(shí)間和精力。而且，由于人為操作的限制，可能會(huì)出現(xiàn)操作不精準(zhǔn)、重復(fù)測(cè)量等情況，進(jìn)一步降低了測(cè)量效率。例如，在調(diào)整晶體角度時(shí)，操作人員需要憑借經(jīng)驗(yàn)和...

在現(xiàn)代無(wú)損檢測(cè)與成像領(lǐng)域，高分辨率CT和微焦點(diǎn)CT都扮演著重要角色，它們雖同屬CT技術(shù)范疇，但在成像原理上卻存在著一些具體的區(qū)別。高分辨率CT主要通過(guò)X射線源發(fā)射出相對(duì)較寬的扇形X射線束，穿透被檢測(cè)物體后，由對(duì)面的探測(cè)器接收衰減后的射線信號(hào)。其成像原理基于不同物質(zhì)對(duì)X射線的吸收差異，通過(guò)計(jì)算機(jī)對(duì)大量投影數(shù)據(jù)的處理，重建出物體內(nèi)部的二維或三維圖像。在這個(gè)過(guò)程中，重點(diǎn)在于利用廣泛的射線覆蓋范圍和高精度的數(shù)據(jù)采集，以獲取物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細(xì)信息，從而實(shí)現(xiàn)高分辨率的成像效果。這種成像方...

二維材料的面內(nèi)-面外聯(lián)動(dòng)解決方案|掠入射x射線衍射分析單層和超薄WS2薄膜（XRD）布魯克X射線部門(mén)孟璐介紹薄膜器件的功能高度依賴于其結(jié)構(gòu)特性。X射線衍射（XRD）和x射線反射法（XRR）是研究薄膜的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)。檢測(cè)信號(hào)反饋了結(jié)構(gòu)特性，如膜層厚度、界面粗糙度和電子密度，以及亞納米精度的晶體特性。當(dāng)薄膜厚度在單層范圍內(nèi)時(shí)，使用實(shí)驗(yàn)室x射線衍射儀研究這些薄膜尤其具有挑戰(zhàn)性，需要應(yīng)用掠入射技術(shù)從薄膜中獲得信號(hào)。WS2是下一代二維電子器件中很有前途的候選者。其高載流子遷移率和與厚度...

在材料科學(xué)、化學(xué)研究等眾多領(lǐng)域，光電子能譜儀憑借光電子能譜實(shí)現(xiàn)元素的定量分析。光電子能譜儀的核心在于其利用光子與物質(zhì)相互作用激發(fā)光電子的原理。當(dāng)一束特定能量的單色光照射到樣品表面時(shí)，樣品中的原子或分子吸收光子能量，將束縛態(tài)電子激發(fā)為光電子逸出體外。由于不同元素具有電子結(jié)構(gòu)，其內(nèi)層電子結(jié)合能各異，這就使得光電子攜帶了樣品元素的“身份標(biāo)識(shí)”。在元素定量分析過(guò)程中，首先通過(guò)高精度的光譜探測(cè)系統(tǒng)收集逸出的光電子。這些光電子進(jìn)入能量分析器，依據(jù)其動(dòng)能進(jìn)行篩選與分辨。因?yàn)楣怆娮拥膭?dòng)能等于...